PCT耐候老化試驗箱

PCT耐候老化試驗箱，又稱為PCT耐候試驗箱或PCT老化箱，是一種用于模擬產品在高壓力、高溫、高濕度等惡劣環境下性能變化的設備。它廣泛應用于電工、電子產品、元器件、半導體、IC、LCD、磁鐵等材料及產品的可靠性測試，以評估其在高溫、高濕及壓力的氣候環境下的貯存、運輸和使用時的性能。

設備特點：

1.采用進口耐高溫電磁閥雙路結構，上降低了使用故障率。

2.獨立蒸汽發生室，避免蒸汽直接沖擊產品，以免造成產品局部破壞。

3.門鎖省力結構，解決第一代產品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。

4.試驗前排冷空氣;試驗中排冷空氣設計(試驗桶內空氣排出)提高壓力穩定性、再現性.

5.超長效實驗運轉時間，長時間實驗機臺運轉1000小時.

6.水位保護，透過試驗室內水位Sensor檢知保護.

7.tank耐壓設計，箱體耐壓力(140℃)2.65kg，符合水壓測試6kg.

8.二段式壓力安全保護裝置，采兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置.

9.安全保護排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕

10.全觸控式控制器，支持U盤導出歷史記錄

四、箱子尺寸

4.1.內箱尺寸  PCT-40（∮400 mm x L500 mm）,圓型試驗箱

4.2.外型尺寸(約) 900x  900 x 1500 mm ( W * D * H )

五、性能指標：

1.設定溫度:  +105 ℃  ～ +132 ℃( 飽和蒸氣溫度 )

2.濕度范圍:  100 % 蒸氣濕度

3.濕度控制穩定度：±1%RH

4.使用壓力: 1.2~2.89kg(含1atm)

5.時間范圍: 0 Hr ～ 9999 Hr

6.加壓時間:  0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2  約 45 分

7.溫度波動均勻度 : ±0.5℃

8.溫度顯示精度：0.1℃

9.壓力波動均勻度 : ±0.02Kg

10.濕度分布均度：±5%RH

PCT耐候老化試驗箱的應用范圍廣泛，不僅適用于半導體封裝之濕氣能力測試，也廣泛應用于線路板、多層線路板、IC、LCD、磁鐵等產品之密封性能的檢測，測試其制品的耐壓性、氣密性等。此外，加速老化壽命試驗的目的是提高環境應力（如溫度）與工作應力（施加給產品的電壓、負荷等），加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。